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远红外放射率分析仪概述
日期：2024-04-23 19:49
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摘要：
远红外放射率分析仪概述
远红外放射率分析仪简介：
远红外放射率分析仪简介：
• 本测量器可以用非常简单且高精度的方式,测量在常温中的各种物体的放射率。
• 本测量器早已经由宇宙开発、原子力、半导体产业等的**技术分类上所采用。从研究开発应用至生产线上的应用等，可供活用的范围非常广泛。
• 选配记录器，可将所测量值记录并连接PC获取数据及绘制曲线，分析放射曲线、*大、*小、平均值。
远红外放射率分析仪构成：
• １．红外线照射源
• 藉由在一定温度中加热后的半球面黒体炉，在试料中集中照射。
• ２．红外线检验素子
• 从试料反射出的能量的一部分，射进半球面黒体炉的顶点的小孔，用一定比率做检验。
• 注：比率是依据光学系的构造来决定。
• ３．放射率演算回路
• 从反射能量检验器的输出，演算试料的放射率。
• 注：试料的反射率和放射率的关系式如下：r εε＝１－r
• ４．放射率表示値的校正
• 利用附属的放射率基准片（ε＝０．０６与０．９４）做校正
测量原理：利用恒温放射的远红外线放射源，将能量照射后计算所反射的能量。
测量波长：2-22μｍ
测量范围：0.00-1.00
额定精度：±0.01
测量面积：Φ15mm
测量距离：12mm（固定侦测头的脚柱部）
被测物温：10-40℃（室温）
输 出：0-0.1V，0-1V（满载）
使用温度：10-45℃
使用湿度：35-85%RH（未结露、霜之状态）
使用电源：AC100V ±10%，50/60Hz
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