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远红外放射率分析仪概述

日期:2019-03-26 22:07
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摘要:
远红外放射率分析仪概述
远红外放射率分析仪简介:
•          本测量器可以用非常简单且高精度的方式,测量在常温中的各种物体的放射率。 
•          本测量器早已经由宇宙开発、原子力、半导体产业等的尖端技术分类上所采用。从研究开発应用至生产线上的应用等,可供活用的范围非常广泛。
•          选配记录器,可将所测量值记录并连接PC获取数据及绘制曲线,分析放射曲线、*大、*小、平均值。
远红外放射率分析仪构成:
•          1.红外线照射源
•          藉由在一定温度中加热后的半球面黒体炉,在试料中集中照射。
•          2.红外线检验素子
•          从试料反射出的能量的一部分,射进半球面黒体炉的顶点的小孔,用一定比率做检验。
•          注:比率是依据光学系的构造来决定。
•          3.放射率演算回路
•          从反射能量检验器的输出,演算试料的放射率。
•          注:试料的反射率和放射率的关系式如下:r εε=1-r
•          4.放射率表示値的校正
•          利用附属的放射率基准片(ε=0.06与0.94)做校正
测量原理:利用恒温放射的远红外线放射源,将能量照射后计算所反射的能量。
测量波长:2-22μm
测量范围:0.00-1.00
额定精度:±0.01
测量面积:Φ15mm
测量距离:12mm(固定侦测头的脚柱部)
被测物温:10-40℃(室温)
输  出:0-0.1V,0-1V(满载)
使用温度:10-45℃
使用湿度:35-85%RH(未结露、霜之状态)
使用电源:AC100V ±10%,50/60Hz

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